?无损检测用平板探测器伪影效应怎么办？

作者：admin 发布时间：2021-07-08 09:37点击：

今天一个工业无损检测客户来电咨询小编反馈他们的平板探测器近期发现图像有伪影，感觉图像好像有点模糊有重影似的，通过录制的视频小编确定这种情况探测器长时间受射线照射导致的刻蚀效应，一般非晶硅或者非晶硒类平板探测器在使用3-5年左右，根据受射线强度或者次数的影响会陆续发生刻蚀效应，导致图像产生伪影或者重影，目前刻蚀效应是不可逆的，一旦重影或者伪影严重影响到图像的正常观看就需要更换全新平板探测器了。

（平板探测器）