根据x射线平板探测器的组成材料和工作原理，x射线平板探测器主要分为CCD、单线扫描和非晶平板三大类技术。

单线扫描x射线平板探测器:又称一维线扫描技术，由俄罗斯科学院核物理研究所发明，是中国中兴航空公司生产的DR;与平板技术相比，具有辐射剂量小、设备成本低的优点，但也存在成像时间长(数秒)、空间分辨率低(首次发射时为1mm/lp)、x射线使用效率低等致命缺陷;成像质量差，病人会接受很多不必要的辐射。

非晶x射线平板探测器:非晶硒/非晶硅;主要由非晶硒层(a-Se)/非晶硅层(a-Si)加上薄膜半导体阵列(TFT)组成。

CCD 平板探测器:由于物理条件的限制，专家普遍认为大面积平板成像CCD技术还不够，CCD设备与非晶硅/硒平板设备在成像质量上有一定差距，但具有相对的价格优势；世界上还有一些制造商在使用这项技术，比如瑞士。

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